簡(jiǎn)述下ADSS光纜大衰耗點(diǎn)產(chǎn)生的幾種原因
瀏覽次數：1552發(fā)布日期：2019-12-27
ADSS光纜是為了滿(mǎn)足光學(xué)、機械或環(huán)境的性能規范而制造的，它是利用置于包覆護套中的一根或多根光纖作為傳輸媒質(zhì)并可以單獨或成組使用的通信線(xiàn)纜組件。ADSS光纜主要是由光導纖維(細如頭發(fā)的玻璃絲)和塑料保護套管及塑料外皮構成，光纜內沒(méi)有金、銀、銅鋁等金屬，一般無(wú)回收價(jià)值。光纜是一定數量的光纖按照一定方式組成纜心，外包有護套，有的還包覆外護層，用以實(shí)現光信號傳輸的一種通信線(xiàn)路。即：由光纖(光傳輸載體)經(jīng)過(guò)一定的工藝而形成的線(xiàn)纜。光纜的基本結構一般是由纜芯、加強鋼絲、填充物和護套等幾部分組成，另外根據需要還有防水層、緩沖層、絕緣金屬
ADSS光纜大衰耗點(diǎn)產(chǎn)生的幾種現象和原因
1、敷設時(shí)產(chǎn)生的大衰耗點(diǎn)
在光纜施工中，由于光纜敷設長(cháng)度一般在2～3KM直埋敷設時(shí)，穿越的障礙物較多，在施工中，敷設人員較多，敷設距離較遠，難以保證所有敷設人員協(xié)調行動(dòng)，特別是通過(guò)障礙物較多時(shí)，如：穿越防護鋼管，拐彎、上下坡等，從而出現俗稱(chēng)的光纜打背扣(出現死彎)現象，對光纜造成嚴重傷害，一旦發(fā)生死彎現象，此處必然會(huì )出現一個(gè)大衰耗點(diǎn)，嚴重的會(huì )發(fā)生部分或全部光纖斷裂現象，這是光纜施工中容易出現的故障現象。此外，在敷設光纜時(shí)，光纜端頭的光纜Z容易受到損傷，在接續時(shí)，往往在接續點(diǎn)處顯示有較大衰耗值，此時(shí)，即使多次重復熔接，也不能降低接續損耗值，從而形成一個(gè)較大的衰耗點(diǎn)。
2、接續過(guò)程中產(chǎn)生的大衰耗點(diǎn)
在光纜接續過(guò)程中，產(chǎn)生大衰耗點(diǎn)是經(jīng)常發(fā)生的，我們一般用OTDR(光時(shí)域反射儀)進(jìn)行監測，即每熔接一根光纖，都用OTDR測試一下熔接點(diǎn)的衰耗值，具體測試時(shí)，采用雙向監測法，由于光纖制造過(guò)程中存在的差異性，兩根光纖不可能*一致，總是存在模場(chǎng)直徑不一致現象，從而導致了用OTDR所測的損耗值并不是接續點(diǎn)的實(shí)際損耗值，其數值有正有負，一般用雙向測試值的算術(shù)平均值作為實(shí)際衰耗值。在接續時(shí)，一般用實(shí)時(shí)監測法，基本能保證熔接損耗達到控制目標，但經(jīng)常產(chǎn)生大損耗點(diǎn)的原因是在熔接完畢后進(jìn)行光纖收容時(shí)，部分光纖受壓或彎曲半徑過(guò)小，即形成一個(gè)大衰耗點(diǎn)。因為1550nm波長(cháng)的光纖對微彎損耗非常敏感，光纖一旦受壓，即產(chǎn)生一個(gè)微彎點(diǎn)，或盤(pán)纖時(shí)，彎曲半徑過(guò)小，光纖信號在此處也產(chǎn)生較大的衰耗，表現在光纖后向散射曲線(xiàn)上，就形成了一個(gè)較大的衰耗臺階；另外，一個(gè)比較容易忽視的原因是光纜接頭盒組裝完成后，固定接頭盒和固定光纜時(shí)，由于光纜在接頭盒內固定的不是很牢固，造成光纜擰轉，使光纖束管變形，由于光纖受壓，造成光纖衰耗值急劇增加，形成衰耗臺階。
3、運輸和裝卸造成的大衰耗點(diǎn)
在ADSS光纜運輸到施工現場(chǎng)時(shí)，由于現場(chǎng)環(huán)境比較惡劣，特別是敷設鐵路通信光纜時(shí)，吊車(chē)往往無(wú)法到達施工現場(chǎng)，此時(shí)，常常是通過(guò)人力裝卸光纜，在光纜卸下的過(guò)程中，外層光纜經(jīng)常受到損傷，原因是光纜盤(pán)直徑過(guò)小，導致外層光纜離地面距離過(guò)近，由于現場(chǎng)地面土質(zhì)軟硬不一，崎嶇不平，在滾動(dòng)光纜盤(pán)的過(guò)程中，光纜盤(pán)陷入地面，導致外層光纜被地面硬物硌壞，主要原因是部分廠(chǎng)家為降低生產(chǎn)成本，采用較小的光纜盤(pán)。此外，光纜盤(pán)未用木板進(jìn)行包封(有些是鐵架光纜盤(pán)，無(wú)法用木板進(jìn)行包封)，而僅用塑料布在光纜外層進(jìn)行包裹，或者是單盤(pán)測試后，光纜盤(pán)包封未恢復，起不到應有的防護作用，當光纜外層被石頭等硬物硌傷后，光纖在束管中受壓，即產(chǎn)生一個(gè)衰耗臺階，表現在光纖后向散射曲線(xiàn)上，就形成一個(gè)較大的衰耗點(diǎn)。
4、成端過(guò)程中產(chǎn)生的大衰耗點(diǎn)
在A(yíng)DSS光纜成端過(guò)程中，也經(jīng)常會(huì )產(chǎn)生大衰耗點(diǎn)。在成端時(shí)，由于一般不進(jìn)行熔接損耗監測，僅憑經(jīng)驗操作，因此，產(chǎn)生大衰耗點(diǎn)的幾率也大增。此外，在光纖熔接后安裝收容盤(pán)時(shí)，往往造成收容盤(pán)附近的光纖束管彎曲半徑過(guò)小或造成光纖束管擰轉變形，使光纖在此處產(chǎn)生一個(gè)較大的衰耗點(diǎn)，此類(lèi)大衰耗點(diǎn)一般比較隱蔽，不像線(xiàn)路中間的大衰耗點(diǎn)用OTDR可以直接測出。
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